如何选择应力测试中的应变片

日期:2021-09-03编辑作者:测量设备

  对于个位数级别微应变测量,正确的选择是采用箔式电阻应变片。尽管半导体应变片有很好的稳定性,但其在一定条件下容易产生很多误差,如温度变化以及光线变化。

  箔式应变片是建立在长度改变导致电阻相应变化的理论上的。通过惠斯通电桥,电阻的变化产生一个高精度,非常可靠的测量信号。应变栅丝的材料一般是康铜,有时也可以是镍铬合金。应变片有不同的电阻,长度和尺寸。

  1、对于复合和非均质材料,应该选择zui长可能的应变片。更长的长度可以捕获材料整体的平均应变。

  2、对于潮湿环境,应该选择阻值zui低的应变片。更低的阻值可以抵消由于潮湿引起绝缘体肿胀造成的误差。

  3、如果知道应变方向,请使用单直片,如果不确定,应该使用应变花。其可以测量单轴,双轴和剪应力。

  4、对于应力测试周围存在很多不规则和应力集中的区域,选择zui小可能的应变片,你可以获得真实的测试结果。

  5、对于湿度-温度应用,使用康铜基底应变片更好。对于温度超过200°C情况,应选择镍铬合金应变片。必须保证在应变片安装表面,没有潮湿空气。即使在72°F情况下,金属也会在阳光下变热。

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